基于深度學(xué)習(xí)的聯(lián)合多個(gè)通道產(chǎn)品缺陷分類方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010483651.6 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN111709918A | 公開(kāi)(公告)日 | 2020-09-25 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN111709918A | 申請(qǐng)公布日 | 2020-09-25 |
分類號(hào) | G06T7/00(2017.01)I | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
發(fā)明人 | 許琦;王立軍;朱天同;潘勇;莫仲念;劉飛月 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 深圳市深視創(chuàng)新科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 深圳市中智立信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 深圳市深視創(chuàng)新科技有限公司 |
地址 | 518000廣東省深圳市南山區(qū)科技園高新中一道2號(hào)長(zhǎng)園新材5棟1樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供了一種基于深度學(xué)習(xí)的聯(lián)合多個(gè)通道產(chǎn)品缺陷分類方法,包括:導(dǎo)入產(chǎn)品需要訓(xùn)練的每一通道圖像,手動(dòng)標(biāo)注單個(gè)通道圖像的缺陷位置區(qū)域和類型;設(shè)置訓(xùn)練參數(shù),按模型尺寸對(duì)缺陷位置處進(jìn)行裁切,生成單個(gè)通道小圖;開(kāi)始訓(xùn)練,待訓(xùn)練周期數(shù)達(dá)到設(shè)置值后自動(dòng)結(jié)束訓(xùn)練,并保存驗(yàn)證集測(cè)試效果最佳的模型;導(dǎo)入事先準(zhǔn)備好的檢測(cè)和聯(lián)合多通道分類模型,按固定尺寸和步長(zhǎng)遍歷圖像所有區(qū)域,若檢測(cè)模型判為缺陷,再將該產(chǎn)品對(duì)應(yīng)的所有通道該區(qū)域的所有小圖切出,進(jìn)行聯(lián)合多通道缺陷分類;匯總所有檢測(cè)和聯(lián)合多通道分類結(jié)果,將位置相近區(qū)域缺陷進(jìn)行合并輸出。本發(fā)明的算法通用性強(qiáng),對(duì)比市面上一般深度學(xué)習(xí)單輸入模式有很大進(jìn)步和創(chuàng)新。?? |
