批量測(cè)試發(fā)光二極管壽命的電路系統(tǒng)及其測(cè)試方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201210548992.2 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN103048603B 公開(kāi)（公告）日 2015-12-02
申請(qǐng)公布號(hào) CN103048603B 申請(qǐng)公布日 2015-12-02
分類(lèi)號(hào) G01R31/26(2014.01)I 分類(lèi) 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 羅建國(guó);王劍斌;王磊;吳為敬;彭俊彪 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 廣州晶合測(cè)控技術(shù)有限責(zé)任公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州市華學(xué)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 華南理工大學(xué);廣州晶合測(cè)控技術(shù)有限責(zé)任公司
地址 510640 廣東省廣州市天河區(qū)五山路381號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種批量測(cè)試發(fā)光二極管壽命的電路系統(tǒng)及其測(cè)試方法，所述電路系統(tǒng)包括計(jì)算機(jī)、數(shù)字輸出模塊、若干個(gè)測(cè)試單元、地址解析模塊和信號(hào)復(fù)用模塊、數(shù)字電壓表；所述計(jì)算機(jī)與數(shù)字輸出模塊連接；所述數(shù)字輸出模塊的控制信號(hào)輸出端與測(cè)試單元連接，地址信號(hào)輸出端分別與地址解析模塊和信號(hào)復(fù)用模塊連接；所述地址解析模塊通過(guò)信號(hào)總線與測(cè)試單元連接；所述信號(hào)復(fù)用模塊的使能端、輸入端和輸出端分別與地址解析模塊、測(cè)試單元和數(shù)字電壓表連接；所述數(shù)字電壓表與計(jì)算機(jī)連接。本發(fā)明的電路系統(tǒng)結(jié)構(gòu)合理、成本較低，通過(guò)若干個(gè)測(cè)試單元可對(duì)大批量的有機(jī)或者無(wú)機(jī)發(fā)光二極管的壽命進(jìn)行測(cè)試工作，且具有測(cè)試速度快、精度高和以及良好可靠性的優(yōu)點(diǎn)。