批量測試發(fā)光二極管壽命的電路系統(tǒng)及其測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201210548992.2 申請日 -
公開（公告）號 CN103048603A 公開（公告）日 2013-04-17
申請公布號 CN103048603A 申請公布日 2013-04-17
分類號 G01R31/26(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 羅建國;王劍斌;王磊;吳為敬;彭俊彪 申請（專利權(quán)）人 廣州晶合測控技術(shù)有限責任公司
代理機構(gòu) 廣州市華學(xué)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 華南理工大學(xué);廣州晶合測控技術(shù)有限責任公司
地址 510640 廣東省廣州市天河區(qū)五山路381號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種批量測試發(fā)光二極管壽命的電路系統(tǒng)及其測試方法，所述電路系統(tǒng)包括計算機、數(shù)字輸出模塊、若干個測試單元、地址解析模塊和信號復(fù)用模塊、數(shù)字電壓表；所述計算機與數(shù)字輸出模塊連接；所述數(shù)字輸出模塊的控制信號輸出端與測試單元連接，地址信號輸出端分別與地址解析模塊和信號復(fù)用模塊連接；所述地址解析模塊通過信號總線與測試單元連接；所述信號復(fù)用模塊的使能端、輸入端和輸出端分別與地址解析模塊、測試單元和數(shù)字電壓表連接；所述數(shù)字電壓表與計算機連接。本發(fā)明的電路系統(tǒng)結(jié)構(gòu)合理、成本較低，通過若干個測試單元可對大批量的有機或者無機發(fā)光二極管的壽命進行測試工作，且具有測試速度快、精度高和以及良好可靠性的優(yōu)點。