集成電路版圖的靜電保護(hù)結(jié)構(gòu)的提取和智能設(shè)計(jì)驗(yàn)證方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201611263206.9 申請日 -
公開（公告）號 CN106682331A 公開（公告）日 2017-05-17
申請公布號 CN106682331A 申請公布日 2017-05-17
分類號 G06F17/50(2006.01)I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 王自惠;李大光 申請（專利權(quán)）人 北京厚德微電技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 王寶筠
地址 100097 北京市海淀區(qū)遠(yuǎn)大路39號青清商務(wù)1號樓610室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明所提供的一種集成電路版圖的靜電保護(hù)結(jié)構(gòu)的提取和智能設(shè)計(jì)驗(yàn)證方法，通過預(yù)先定義靜電保護(hù)結(jié)構(gòu)，生成靜電保護(hù)結(jié)構(gòu)定義文件，然后獲取集成電路版圖中，所述陽極正端子和所述陰極負(fù)端子中至少一個(gè)端子與焊盤相連的基礎(chǔ)靜電保護(hù)器件為待提取的靜電保護(hù)結(jié)構(gòu)?？梢?，本發(fā)明將靜電保護(hù)結(jié)構(gòu)提取從基礎(chǔ)靜電保護(hù)器件擴(kuò)展到復(fù)雜靜電保護(hù)結(jié)構(gòu)，進(jìn)而提高了從集成電路版圖提取靜電保護(hù)結(jié)構(gòu)的效率，并實(shí)現(xiàn)芯片級智能設(shè)計(jì)檢測。