相位偏折術(shù)在玻璃缺陷檢測(cè)的應(yīng)用
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010180342.1 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN111323434B | 公開(公告)日 | 2021-08-13 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN111323434B | 申請(qǐng)公布日 | 2021-08-13 |
分類號(hào) | G01N21/958(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 都衛(wèi)東;王巖松;和江鎮(zhèn);吳健雄;王天翔 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 征圖新視(江蘇)科技股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 常州品益專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 喬楠 |
地址 | 213161江蘇省常州市武進(jìn)經(jīng)開區(qū)西太湖錦華路258-6號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及玻璃缺陷檢測(cè),尤其是一種相位偏折術(shù)在玻璃缺陷檢測(cè)的應(yīng)用,為解決現(xiàn)有玻璃缺陷檢測(cè)時(shí)存在尺寸較小的凹坑無(wú)法檢出,缺陷會(huì)受到玻璃下表面成像干擾的問(wèn)題:提供一種相位偏折術(shù)在玻璃缺陷檢測(cè)的應(yīng)用,包括如下步驟:1)、點(diǎn)亮環(huán)形光源時(shí)面陣相機(jī)拍照,采集暗場(chǎng)圖像,暗場(chǎng)圖像通過(guò)電腦計(jì)算缺陷檢測(cè),得到暗場(chǎng)檢測(cè)結(jié)果;2)、控制器點(diǎn)亮顯示屏,顯示屏播放條紋圖像,在顯示器每幀切換時(shí)CCD相機(jī)采集圖像,該圖像通過(guò)電腦中的相位偏折算法計(jì)算缺陷檢測(cè),得到相位偏折檢測(cè)結(jié)果;3)、將步驟1)中得到暗場(chǎng)檢測(cè)結(jié)果和步驟2)中得到相位偏折檢測(cè)結(jié)果配合進(jìn)行綜合計(jì)算,本發(fā)明能提高產(chǎn)品生產(chǎn)檢測(cè)效率,降低人工以及設(shè)備成本。 |
