一種將紅外熱像儀刻度函數(shù)應用于實際測量環(huán)境的自適應修正方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610907034.8 申請日 -
公開（公告）號 CN106500856A 公開（公告）日 2017-03-15
申請公布號 CN106500856A 申請公布日 2017-03-15
分類號 G01J5/52(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 路璐 申請（專利權(quán)）人 成都市晶林科技有限公司
代理機構(gòu) 成都金英專利代理事務所（普通合伙） 代理人 成都市晶林科技有限公司
地址 610000 四川省成都市高新區(qū)天府四街66號1棟7層4號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種將紅外熱像儀刻度函數(shù)應用于實際測量環(huán)境的自適應修正方法，該方法采用可控溫度的黑體近距離標定刻度函數(shù)，計算刻度函數(shù)表達式的系數(shù)，然后計算實驗室參數(shù)與實際測溫環(huán)境參數(shù)的比值，根據(jù)比值計算修正后的刻度函數(shù)。根據(jù)實際測量環(huán)境參數(shù)（目標距離、視窗、量程）等，修正紅外探測儀的刻度函數(shù)，克服了現(xiàn)有刻度函數(shù)僅適應實驗室環(huán)境的缺陷，同時算法簡單、易實現(xiàn)、不額外增加硬件模塊、不增加功耗。