CT檢測方法和CT設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201410851690.1 申請日 -
公開（公告）號 CN105806858B 公開（公告）日 2019-05-17
申請公布號 CN105806858B 申請公布日 2019-05-17
分類號 G01N23/046（2018.01）I; G01B15/00（2006.01）I; A61B6/03（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 肖永順; 陳志強; 常銘; 趙自然 申請（專利權(quán)）人 北京固鴻科技有限公司
代理機構(gòu) 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 代理人 北京固鴻科技有限公司; 同方威視技術(shù)股份有限公司
地址 100083 北京市海淀區(qū)王莊路1號清華同方科技廣場A座17層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供CT檢測方法，其中，所述方法包括如下步驟：(1).根據(jù)旋轉(zhuǎn)一周的預(yù)設(shè)角度采樣數(shù)值，對被測物體進(jìn)行X射線圓周掃描，獲取一組不同投影角度下的投影采樣數(shù)據(jù)，所述預(yù)設(shè)角度采樣數(shù)值大于1000；(2).對所述投影采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，獲得與CT系統(tǒng)中大焦點輻射源等效的多個虛擬子焦點的投影數(shù)據(jù)；(3).根據(jù)所述多個虛擬子焦點投影數(shù)據(jù)，進(jìn)行圖像重建。