測(cè)試平臺(tái)（eMMC測(cè)試平臺(tái)A型)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201930578812.8 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN305903085S 公開（公告）日 2020-07-07
申請(qǐng)公布號(hào) CN305903085S 申請(qǐng)公布日 2020-07-07
分類號(hào) 10-05 (12) 分類 -
發(fā)明人 朱榮臻 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 西安艾可薩科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 西安嘉思特知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 西安艾可薩科技有限公司
地址 710000陜西省西安市雁塔區(qū)錦業(yè)一路56號(hào)研祥城市廣場(chǎng)A座601
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 1.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的名稱：測(cè)試平臺(tái)（eMMC測(cè)試平臺(tái)A型)。2.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的用途：用于eMMC芯片的測(cè)試及篩選，包含但不局限于芯片的壓力測(cè)試、掉電測(cè)等。3.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)要點(diǎn)：在于形狀。4.最能表明設(shè)計(jì)要點(diǎn)的圖片或照片：俯視圖。