一種測量液晶器件實際反射率的方法與裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010285756.0 申請日 -
公開（公告）號 CN111366561A 公開（公告）日 2020-07-03
申請公布號 CN111366561A 申請公布日 2020-07-03
分類號 G01N21/55 分類 -
發(fā)明人 楊海寧;初大平 申請（專利權(quán)）人 劍橋大學(xué)南京科技創(chuàng)新中心有限公司
代理機構(gòu) 南京瑞弘專利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） 代理人 劍橋大學(xué)南京科技創(chuàng)新中心有限公司
地址 210000 江蘇省南京市江北新區(qū)定山大街126號8號樓2樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種基于相干原理的液晶器件反射率測量裝置，包括光源、分束器、光強度探測器、裝置反射鏡與待測量器件；光源、分束器、光強度探測器、裝置反射鏡與待測量器件組成如下光路，光源經(jīng)過分束器入射至液晶器件，分束器的另一束光經(jīng)裝置反射鏡與經(jīng)液晶器件的反射光再次經(jīng)過分束器后被光強度探測器測量，所述光源為寬頻光源。本發(fā)明從裝置到方法上給出了對現(xiàn)有的一種測量反射式液晶器件反射率的方法的改進(jìn)。采用具有一定波長分布的光源經(jīng)過分束器入射至液晶器件，經(jīng)反射光再次經(jīng)過分束器后被光強度探測器測量并經(jīng)傅氏變換，能準(zhǔn)確和方便推導(dǎo)出探測液晶器件各反射層的準(zhǔn)確的反射率。