硅襯底上以三族氮化物為主材的半導(dǎo)體晶體生長方法及器件
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN200710021000.X | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN101075556A | 公開(公告)日 | 2007-11-21 |
申請公布號 | CN101075556A | 申請公布日 | 2007-11-21 |
分類號 | H01L21/205(2006.01);C30B25/18(2006.01);C30B29/38(2006.01) | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 張雄 | 申請(專利權(quán))人 | 無錫藍星電子有限公司 |
代理機構(gòu) | 無錫市大為專利商標事務(wù)所 | 代理人 | 無錫藍星電子有限公司 |
地址 | 214043江蘇省無錫市興源北路401號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 硅襯底上以三族氮化物為主材的半導(dǎo)體晶體生長方法及器件,屬于半導(dǎo)體材料及器件技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明是關(guān)于一種生長在復(fù)合中間層表面的三族氮化物半導(dǎo)體的方法及制作相關(guān)器件。所述的復(fù)合中間層是由在(111)面硅襯底上形成的一層二硼化鋯(ZrB2)薄膜,和與二硼化鋯晶格匹配的氮化鋁鎵(Al0.26Ga0.74N)層,及以氮化鋁鎵(AlxGa1-xN,0≤x≤1)為主材的單層或多層緩沖層組合而成。此種能夠抑制外延層和襯底晶格不匹配造成的晶體缺陷產(chǎn)生及位錯遷移的復(fù)合中間層,可生長在部分或全部(111)面硅襯底表面。接著,在此復(fù)合中間層上即可生長高質(zhì)量的單層或多層三族氮化物薄膜,三族氮化物薄膜可以被攙雜成n-型或p-型半導(dǎo)體,以形成p-n結(jié),從而制備各種光電子元器件。 |
