一種標(biāo)準(zhǔn)單元庫的優(yōu)化方法及系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201610173678.9 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN105868449A 公開（公告）日 2016-08-17
申請(qǐng)公布號(hào) CN105868449A 申請(qǐng)公布日 2016-08-17
分類號(hào) G06F17/50(2006.01)I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 韋亞一;趙利俊;粟雅娟 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 廣東中科芯發(fā)展科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 王寶筠
地址 100029 北京市朝陽區(qū)北土城西路3號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種標(biāo)準(zhǔn)單元庫的優(yōu)化方法，在進(jìn)行電路級(jí)別的光學(xué)仿真之前，先進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)單元的版圖布局，進(jìn)而進(jìn)行單一標(biāo)準(zhǔn)單元版圖的光學(xué)仿真，這樣，可以對(duì)標(biāo)準(zhǔn)單元先進(jìn)行光學(xué)仿真的優(yōu)化，減少了后續(xù)優(yōu)化和流片的次數(shù)，大大提高了設(shè)計(jì)效率，降低優(yōu)化難度，進(jìn)而提高了設(shè)計(jì)的可靠性，尤其適用于新工藝節(jié)點(diǎn)下的標(biāo)準(zhǔn)單元庫的設(shè)計(jì)和優(yōu)化。