微米發(fā)光二極管檢測系統(tǒng)及檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210371679.X 申請日 -
公開（公告）號 CN114441149B 公開（公告）日 2022-07-05
申請公布號 CN114441149B 申請公布日 2022-07-05
分類號 G01M11/02（2006.01）I;G01R31/26（2014.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 汪偉;畢海;段江偉;張赫銘;柯鏈寶;楊萬里;何兆銘 申請（專利權(quán)）人 季華實(shí)驗(yàn)室
代理機(jī)構(gòu) 深圳市世紀(jì)恒程知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 代理人 -
地址 528200廣東省佛山市南海區(qū)桂城街道環(huán)島南路28號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提出的一種微米發(fā)光二極管檢測系統(tǒng)及檢測方法，屬于發(fā)光二極管檢測領(lǐng)域，其中，系統(tǒng)包括第一光發(fā)生模塊，用于發(fā)出第一光信號至多個(gè)待測微米發(fā)光二極管，以使多個(gè)待測微米發(fā)光二極管生成第二光信號；高光譜相機(jī)，所高光譜相機(jī)用于采集第二光信號，獲得光譜成像幀，光譜成像幀中包括多個(gè)待測微米發(fā)光二極管的光譜數(shù)據(jù)；控制模塊，與高光譜相機(jī)連接，用于基于光譜成像幀，從多個(gè)待測微米發(fā)光二極管中確定出缺陷微米發(fā)光二極管，其中，多個(gè)待測微米發(fā)光二極管，在接收到第一光信號中的光能后，激發(fā)自身以生成第二光信號。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)同時(shí)準(zhǔn)確對多個(gè)微米發(fā)光二極管進(jìn)行檢測，提高了在生產(chǎn)中對微米發(fā)光二極管的檢測效率。