微米發(fā)光二極管檢測(cè)系統(tǒng)及檢測(cè)方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202210371679.X | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN114441149B | 公開（公告）日 | 2022-07-05 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN114441149B | 申請(qǐng)公布日 | 2022-07-05 |
| 分類號(hào) | G01M11/02（2006.01）I;G01R31/26（2014.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 汪偉;畢海;段江偉;張赫銘;柯鏈寶;楊萬(wàn)里;何兆銘 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 季華實(shí)驗(yàn)室 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 深圳市世紀(jì)恒程知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 | 代理人 | - |
| 地址 | 528200廣東省佛山市南海區(qū)桂城街道環(huán)島南路28號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提出的一種微米發(fā)光二極管檢測(cè)系統(tǒng)及檢測(cè)方法，屬于發(fā)光二極管檢測(cè)領(lǐng)域，其中，系統(tǒng)包括第一光發(fā)生模塊，用于發(fā)出第一光信號(hào)至多個(gè)待測(cè)微米發(fā)光二極管，以使多個(gè)待測(cè)微米發(fā)光二極管生成第二光信號(hào)；高光譜相機(jī)，所高光譜相機(jī)用于采集第二光信號(hào)，獲得光譜成像幀，光譜成像幀中包括多個(gè)待測(cè)微米發(fā)光二極管的光譜數(shù)據(jù)；控制模塊，與高光譜相機(jī)連接，用于基于光譜成像幀，從多個(gè)待測(cè)微米發(fā)光二極管中確定出缺陷微米發(fā)光二極管，其中，多個(gè)待測(cè)微米發(fā)光二極管，在接收到第一光信號(hào)中的光能后，激發(fā)自身以生成第二光信號(hào)。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)同時(shí)準(zhǔn)確對(duì)多個(gè)微米發(fā)光二極管進(jìn)行檢測(cè)，提高了在生產(chǎn)中對(duì)微米發(fā)光二極管的檢測(cè)效率。 |
