熔絲結(jié)構(gòu)以及形成熔絲結(jié)構(gòu)的方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201010244197.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN102347269B | 公開(公告)日 | 2014-03-12 |
申請公布號 | CN102347269B | 申請公布日 | 2014-03-12 |
分類號 | H01L21/768(2006.01)I;H01L23/525(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 毛劍宏 | 申請(專利權(quán))人 | 鎮(zhèn)江芯納微電子有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 上海麗恒光微電子科技有限公司;西安宜升光電科技有限公司 |
地址 | 201203 上海市浦東新區(qū)張江高科技園區(qū)龍東大道3000號5號樓501B室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 種熔絲結(jié)構(gòu)以及形成熔絲結(jié)構(gòu)的方法,該方法包括:提供半導(dǎo)體襯底,在所述半導(dǎo)體襯底上形成有電路結(jié)構(gòu),在所述電路結(jié)構(gòu)上形成有金屬互連層;在所述金屬互連層上形成熔絲以及熔絲與所述金屬互連層的互連結(jié)構(gòu),所述熔絲的材料選自多晶鍺硅、多晶鍺、非晶硅、非晶鍺或者非晶鍺硅。由于多晶鍺硅、多晶鍺、非晶硅、非晶鍺、非晶鍺硅的電阻值高,在熔斷多晶鍺硅熔絲、多晶鍺熔絲、非晶硅熔絲、非晶鍺熔絲或者非晶鍺硅熔絲時,所需熔斷電流小,不易破壞相關(guān)的電路結(jié)構(gòu),該方法形成的熔絲結(jié)構(gòu)堆疊在金屬互連層上,不會占用芯片面積,因此節(jié)省芯片面積,降低制造成本;而且其形成工藝簡單。 |
