一種利用X射線對貴金屬表面成分分析的儀器
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202020942363.8 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN212483420U | 公開（公告）日 | 2021-02-05 |
| 申請公布號 | CN212483420U | 申請公布日 | 2021-02-05 |
| 分類號 | G01N23/207(2006.01)I; | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 孫吉光 | 申請（專利權）人 | 北京黃金管家科技發(fā)展有限公司 |
| 代理機構 | 北京中索知識產權代理有限公司 | 代理人 | 陳賓賓 |
| 地址 | 100091北京市海淀區(qū)中關村SOHOB區(qū)309 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實用新型適用于貴金屬檢測輔助設備技術領域，提供了一種利用X射線對貴金屬表面成分分析的儀器，包括金屬成分分析儀和輸送裝置；金屬成分分析儀為包括殼體、X射線發(fā)生器和與所述X射線發(fā)生器對應的熒光光譜儀；所述輸送裝置滑動穿透所述金屬成分分析儀下方；所述輸送裝置包括輸送帶和料盤，所述料盤下端一側鉸接所述輸送帶，所述料盤另一端設有復位彈簧，所述殼體上設有若干個伸縮導桿，且所述熒光光譜儀和伸縮導桿均連接控制系統。借此，本實用新型通過在金屬成分分析儀的下端設置輸送裝置，在檢測金屬各組分含量的同時，還可以滿足對快速篩選的需要。?? |
