一種1553B總線阻抗自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202022674881.9 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN214150860U 公開（公告）日 2021-09-07
申請(qǐng)公布號(hào) CN214150860U 申請(qǐng)公布日 2021-09-07
分類號(hào) G01R27/02（2006.01）I;G01R1/20（2006.01）I;G01R1/30（2006.01）I;G01R1/28（2006.01）I;G01R19/25（2006.01）I;G01R25/00（2006.01）I;G01R19/22（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 尤然;張洪才;曹文政;王鎮(zhèn);徐寧 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京航天光華電子技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 中國(guó)航天科技專利中心 代理人 張曉飛
地址 100854北京市海淀區(qū)永定路51號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種1553B總線阻抗自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，系統(tǒng)包括：信號(hào)發(fā)生芯片及放大電路、高速自動(dòng)平衡橋電路、高頻相位測(cè)量芯片、真有效值轉(zhuǎn)換電路、ADC芯片及轉(zhuǎn)換電路、主控芯片、接口電路、上位機(jī)；本發(fā)明可自動(dòng)檢測(cè)50kHz～1MHz頻段范圍、10～1000Ω總線阻抗的電路系統(tǒng)及方法，以簡(jiǎn)化測(cè)試過(guò)程，提高測(cè)試效率，減小測(cè)試設(shè)備體積，降低測(cè)試設(shè)備硬件成本。有效減少了阻抗測(cè)試過(guò)程中的人工操作，提高了測(cè)試效率并減少了測(cè)試系統(tǒng)的硬件成本。