膜層厚度的確定方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910147257.2 申請日 -
公開（公告）號 CN111623714A 公開（公告）日 2020-09-04
申請公布號 CN111623714A 申請公布日 2020-09-04
分類號 G01B11/06(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 朱偉;張繼凱;程曉龍;趙陽 申請（專利權(quán)）人 漢瓦技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 北京三聚陽光知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 張琳琳
地址 510670 廣東省廣州市黃埔區(qū)科學(xué)大道111號附樓229房（僅限辦公）
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及光學(xué)鍍膜技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及膜層厚度的確定方法，該方法包括提供至少一個平面標(biāo)準(zhǔn)件；所述平面標(biāo)準(zhǔn)件包括至少一層鍍膜層，各所述鍍膜層與待測試件對應(yīng)的鍍膜層采用相同的鍍膜工藝形成；根據(jù)所述平面標(biāo)準(zhǔn)件的參數(shù)確定所述待測試件的每層鍍膜層的厚度，所述參數(shù)包括所述鍍膜層厚度及光學(xué)參數(shù)中一個。利用平面標(biāo)準(zhǔn)件作為待測試件每層鍍膜層的厚度的確定基準(zhǔn)，由于平面標(biāo)準(zhǔn)件與待測試件對應(yīng)的鍍膜層采用相同的鍍膜工藝且平面標(biāo)準(zhǔn)件的鍍膜層厚度或光學(xué)參數(shù)可以測定得到，通過平面標(biāo)準(zhǔn)件的鍍膜層厚度或光學(xué)參數(shù)就可以確定出待測試件的每層鍍膜層的厚度。即利用平面標(biāo)準(zhǔn)件的膜層厚度來反推待測試件的膜層厚度，達到質(zhì)量管控、品質(zhì)管理的目的。??