大量程導電碳膜阻值線性精度檢測刻劃儀

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200620028822.1 申請日 -
公開（公告）號 CN201034636Y 公開（公告）日 2008-03-12
申請公布號 CN201034636Y 申請公布日 2008-03-12
分類號 G01D18/00(2006.01);G01D5/16(2006.01) 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李英志 申請（專利權(quán)）人 長春光機數(shù)顯技術有限責任公司
代理機構(gòu) 吉林長春新紀元專利代理有限責任公司 代理人 紀尚
地址 130033吉林省長春市經(jīng)開區(qū)營口路19號中科院
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種大量程導電碳膜阻值線性精度檢測刻劃儀，屬于電子技術領域，其特征是：單片機的采集輸入端接光柵傳感器，單片機的輸出端接顯示器，單片機的輸出控制端接步進電機控制修刻機構(gòu)，修刻的傳感器電阻通過A/D轉(zhuǎn)換器接單片機輸入端。其有益效果是：量程大、精度高、刻劃檢測速度快、成品率高。