一種適用于非均勻陣列的快速測向方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210433326.8 申請日 -
公開（公告）號 CN114545324A 公開（公告）日 2022-05-27
申請公布號 CN114545324A 申請公布日 2022-05-27
分類號 G01S3/14（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 于明成;李繼鋒;李晃;朱文明 申請（專利權(quán)）人 南京宇安防務(wù)科技有限公司
代理機構(gòu) 南京華恒專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 -
地址 210000江蘇省南京市玄武區(qū)黃埔路2號黃埔科技大廈A1幢
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種適用于非均勻陣列的快速測向方法，根據(jù)陣列參數(shù)確定離散空間序列的長度，構(gòu)造并初始化離散空間序列，根據(jù)陣元數(shù)目及序列長度，來選擇是使用離散傅里變換DFT還是選擇快速傅里葉變換FFT計算，讀取接收來波波長和接收通道并更新離散空間序列，對離散空間序列做DFT或FFT運算，獲得與實部方向圖最大值相對應(yīng)的角度，然后迭代求解以及計算來波方向。本發(fā)明通過對陣元輸出信號序列的適當(dāng)處理，使得可以利用FFT快速獲得方向圖峰值所在的大概位置?；诖舜蟾盼恢茫玫惴?，可以獲得方向圖峰值的精確位置，進而實現(xiàn)精確測向。