一種基于環(huán)境因素的隨鉆電阻率測井系統(tǒng)校正方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201910305248.1 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN109915120A | 公開(公告)日 | 2019-06-21 |
申請公布號 | CN109915120A | 申請公布日 | 2019-06-21 |
分類號 | E21B47/13(2012.01)I | 分類 | 土層或巖石的鉆進(jìn);采礦; |
發(fā)明人 | 高增欣 | 申請(專利權(quán))人 | 北京恒泰萬博石油技術(shù)股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京市盛峰律師事務(wù)所 | 代理人 | 北京恒泰萬博石油技術(shù)股份有限公司; 煙臺恒泰油田科技開發(fā)有限公司 |
地址 | 100085 北京市海淀區(qū)創(chuàng)業(yè)路8號3號樓3-2 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種基于環(huán)境因素的隨鉆電阻率測井系統(tǒng)校正方法,所述隨鉆電阻率測井系統(tǒng)包括沿其軸線依次設(shè)置的至少一個(gè)發(fā)射線圈和至少兩個(gè)與所述發(fā)射線圈相距不同距離的接收線圈;包括建立第一數(shù)學(xué)模型、獲取接收線圈幅值比和相位差與地層電阻率的對應(yīng)關(guān)系、建立第二數(shù)學(xué)模型、模擬各種環(huán)境因素下隨鉆電阻率測井系統(tǒng)的校正衰減電阻率曲線與校正相位差電阻率曲線等步驟。優(yōu)點(diǎn)是:通過使用該校正方法能夠制作出井眼影響校正圖版以消除環(huán)境因素對儀器的影響,以更準(zhǔn)確地進(jìn)行地層評價(jià);在鉆井液與地層電阻率相差較大或者井眼尺寸較大時(shí),隨鉆電阻率測井系統(tǒng)能夠?qū)y出的視電阻率值,需對其進(jìn)行校正,降低其與真實(shí)值之間的偏差。 |
