一種井壁微電阻率掃描成像測(cè)井儀的分段刻度方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201811384773.9 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN109577965B 公開（公告）日 2022-07-05
申請(qǐng)公布號(hào) CN109577965B 申請(qǐng)公布日 2022-07-05
分類號(hào) E21B49/00（2006.01）I 分類 土層或巖石的鉆進(jìn)；采礦;
發(fā)明人 李劍浩;周軍;劉昱晟;李國(guó)軍;王偉;倪路橋;陳小磊 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 中國(guó)石油集團(tuán)測(cè)井有限公司
代理機(jī)構(gòu) 西安通大專利代理有限責(zé)任公司 代理人 -
地址 100007北京市東城區(qū)東直門北大街9號(hào)中國(guó)石油大廈
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種井壁微電阻率掃描成像測(cè)井儀的分段刻度方法，包括：將井壁微電阻率掃描成像測(cè)井儀置入已知不同電阻率的標(biāo)準(zhǔn)地層中；通過(guò)所述井壁微電阻率掃描成像測(cè)井儀的陣列電極向標(biāo)準(zhǔn)地層中發(fā)射電流，測(cè)量不同電阻率環(huán)境下儀器各電極的響應(yīng)讀數(shù)；根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)地層電阻率數(shù)值與電極響應(yīng)讀數(shù)，確定所述井壁微電阻率掃描成像測(cè)井儀在不同電阻率區(qū)間下響應(yīng)讀數(shù)與真電阻率的函數(shù)關(guān)系，實(shí)現(xiàn)井壁微電阻率掃描成像測(cè)井儀測(cè)量得到的視電阻率向真電阻率的刻度。本發(fā)明解決了井壁微電阻率掃描成像測(cè)井儀無(wú)法直接獲取地層真電阻率的問(wèn)題。