一種按鍵測(cè)試方法及按鍵測(cè)試裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201910637058.X 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN110470927B 公開(kāi)（公告）日 2021-12-17
申請(qǐng)公布號(hào) CN110470927B 申請(qǐng)公布日 2021-12-17
分類號(hào) G01R31/00（2006.01）I;G01R31/28（2006.01）I;G01R31/327（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 覃泰瑾;吳子明;李勇;丁敏杰 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳市金銳顯數(shù)碼科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳中一聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 曹柳
地址 518000廣東省深圳市南山區(qū)高新區(qū)中區(qū)麻雀嶺工業(yè)區(qū)M-6棟6樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明屬于按鍵測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，主要提供了一種按鍵測(cè)試方法及按鍵測(cè)試裝置中，通過(guò)獲取按鍵配置信息，并根據(jù)所述按鍵配置信息將電路板上對(duì)應(yīng)的多個(gè)待測(cè)試按鍵依序接入?yún)⒖茧妷盒盘?hào)源，并對(duì)電路板進(jìn)行信號(hào)采樣得到對(duì)應(yīng)的多個(gè)采樣電壓信號(hào)，最后根據(jù)多個(gè)采樣信號(hào)與所述按鍵配置信息生成對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果，從而達(dá)到對(duì)電路板上的按鍵進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試的目的，測(cè)試速度快，效率高，并且方便電路板的管理和維修，解決了目前很多測(cè)試場(chǎng)景通常采用人工插板進(jìn)行逐個(gè)按壓進(jìn)行測(cè)試，需要投入大量人力進(jìn)行頻繁的重復(fù)性的一系列按鍵點(diǎn)擊動(dòng)作，具有測(cè)試效率低，容易出現(xiàn)漏測(cè)或者測(cè)錯(cuò)的問(wèn)題。