一種測量粒子加速器束團縱向相位的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610926066.2 申請日 -
公開（公告）號 CN106501604B 公開（公告）日 2019-03-19
申請公布號 CN106501604B 申請公布日 2019-03-19
分類號 G01R25/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 冷用斌; 賴龍偉; 張寧; 閻映炳; 陳之初 申請（專利權(quán)）人 上海艾普強粒子設(shè)備有限公司
代理機構(gòu) 上海智信專利代理有限公司 代理人 中國科學(xué)院上海應(yīng)用物理研究所
地址 201800 上海市嘉定區(qū)嘉羅公路2019號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種測量粒子加速器束團縱向相位的方法，所述粒子加速器包括粒子儲存環(huán)，包括步驟：(1)從粒子儲存環(huán)上引出同步光，生成相應(yīng)的同步光信號；從粒子儲存環(huán)上引出高頻時鐘信號；(2)采用所述高頻時鐘信號對所述同步光信號進行調(diào)制，輸出調(diào)制光信號；(3)將所述調(diào)制光信號轉(zhuǎn)換成相應(yīng)的電信號；(4)采用所述高頻時鐘信號作為采樣時鐘對所述電信號進行采樣，基于采樣后的電信號幅度獲得所述束團縱向相位。本發(fā)明方法不需要提供額外的超短激光設(shè)備，也不需要額外的束流探測設(shè)備(如紐扣電極)，并且可達到幾十fs的束團的縱向相位測量分辨率，因此相較于束流到達時間測量中采用的電光采樣方法成本更低，同時也更加簡潔、可靠。