一種晶圓盒裝置、機(jī)臺(tái)和晶圓檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010888364.3 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN114121737A 公開(kāi)(公告)日 2022-03-01
申請(qǐng)公布號(hào) CN114121737A 申請(qǐng)公布日 2022-03-01
分類(lèi)號(hào) H01L21/673(2006.01)I;H01L21/677(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I 分類(lèi) 基本電氣元件;
發(fā)明人 趙軍;蘇興才;王曉雯;王喬慈 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 中微半導(dǎo)體設(shè)備(上海)股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海元好知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 張靜潔;徐雯瓊
地址 201201上海市浦東新區(qū)金橋出口加工區(qū)(南區(qū))泰華路188號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種晶圓盒裝置,包含:晶圓盒本體,其具有封閉的中空結(jié)構(gòu);晶圓盒本體的內(nèi)側(cè)壁自上而下間隔布置有多個(gè)承載條,相同高度的多個(gè)承載條用于承載晶圓;傳感器,設(shè)置在所述承載條上,用于獲取晶圓的特征值;判斷單元,設(shè)置在晶圓盒本體上,用于根據(jù)傳感器獲取的特征值判斷該特征值是否在閾值范圍內(nèi)。本發(fā)明還提供一種半導(dǎo)體處理機(jī)臺(tái)、一種晶圓檢測(cè)方法。通過(guò)本發(fā)明能夠自動(dòng)化的依據(jù)晶圓厚度、重量實(shí)時(shí)識(shí)別晶圓盒內(nèi)的晶元異常狀況、降低機(jī)臺(tái)宕機(jī)率,大大提高晶元的成品率。