一種基于成像亮度計的OLED屏幕子像素亮度提取方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202111023231.0 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113470562A | 公開(公告)日 | 2021-10-01 |
申請公布號 | CN113470562A | 申請公布日 | 2021-10-01 |
分類號 | G09G3/20(2006.01)I;G09G3/3208(2016.01)I | 分類 | 教育;密碼術(shù);顯示;廣告;印鑒; |
發(fā)明人 | 蔡劍;李堃;葉選新;蔡杰羽;石炳磊;白海楠;朱詩文 | 申請(專利權(quán))人 | 葦創(chuàng)微電子(上海)有限公司 |
代理機構(gòu) | 廣州京諾知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 于睿虬 |
地址 | 201306上海市浦東新區(qū)中國(上海)自由貿(mào)易試驗區(qū)臨港新片區(qū)環(huán)湖西二路888號C樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種基于成像亮度計的OLED屏幕子像素亮度提取方法,具包括:拍攝待測顯示屏輸出的圖片;獲得空間采樣倍率K;將圖像分割成若干個子像素團,進行曲面擬合,得到彌散系數(shù)或者其平均值;以二維彌散模型進行模擬得到模擬彌散圓,并且對不同采樣位置計算出對應的模擬采樣團;匹配采樣位置,并根據(jù)采樣位置擬合計算每個子像素團對應的模擬彌散圓中心的擬合亮度值,作為待測顯示屏的子像素亮度值。本發(fā)明對于不同的采樣位置,做模式匹配,同時針對不同的采樣位置應用不同的擬合,還原出待測顯示屏子像素中心處的亮度,避免了周期性偏差的產(chǎn)生,從本質(zhì)上解決了摩爾紋的問題,避免了摩爾紋的產(chǎn)生,提高了測量精度。 |
