IC卡圖像缺陷檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111344512.6 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN113781486B 公開(kāi)（公告）日 2022-03-15
申請(qǐng)公布號(hào) CN113781486B 申請(qǐng)公布日 2022-03-15
分類號(hào) G06T7/00（2017.01）I;G06T7/11（2017.01）I;G06T7/136（2017.01）I;G06T7/70（2017.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 劉帥;程世翀;徐曉亮;韓碩 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 新恒匯電子股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 青島發(fā)思特專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 劉濤
地址 255086山東省淄博市高新區(qū)中潤(rùn)大道187號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及IC卡外觀圖像采集處理技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種IC卡圖像缺陷檢測(cè)方法。該IC卡圖像缺陷檢測(cè)方法包括以下步驟：步驟一：標(biāo)記芯片ID，接收存儲(chǔ)載帶上芯片的位置信息，位置信息對(duì)應(yīng)到相應(yīng)的芯片ID中；步驟二：接收載帶上對(duì)應(yīng)位置芯片的正反面圖像信息進(jìn)行分析判斷；步驟二中圖像分析判斷，包括以下子步驟：2?1：正面圖像分析；2?2：背面圖像分析；步驟三：芯片的數(shù)據(jù)信息及分析檢測(cè)信息匯總在對(duì)應(yīng)ID下，寫入數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)。提供一種提高檢測(cè)效率及準(zhǔn)確率的IC卡圖像缺陷檢測(cè)方法。