一種集成電路測試中site的管控方法及系統

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011337891.1 申請日 -
公開（公告）號 CN112462233A 公開（公告）日 2021-03-09
申請公布號 CN112462233A 申請公布日 2021-03-09
分類號 G01R31/28(2006.01)I;G06F17/18(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 周乃新 申請（專利權）人 北京確安科技股份有限公司
代理機構 北京輕創(chuàng)知識產權代理有限公司 代理人 馮瑛琪
地址 100094北京市海淀區(qū)永豐基地豐賢中路7號孵化樓A樓二層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種集成電路測試中site的管控方法及系統，涉及集成電路領域。該方法包括：步驟1，獲取bin值排序文件；步驟2，統計集成電路并行測試中每個bin值在不同site下出現的個數，生成統計表；步驟3，根據所述bin值排序文件，對統計表中不符合要求的數據進行剔除，生成優(yōu)化后的統計表；步驟4，根據優(yōu)化后的統計表計算bin值百分比；步驟5，根據所述bin值百分比判斷site是否可控。本發(fā)明能夠解決統計百分比時仍然以site總Die數或晶圓總Die數作為基數計算某個bin的百分比，則會導致統計數據失真的問題，達到減少site間差誤判漏判問題，提高了生產管控能力，及時發(fā)現測試過程趨勢性問題，避免了客戶損失的效果。??