一種芯片測試向量轉(zhuǎn)換方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201510917219.2 申請日 -
公開（公告）號 CN106872872B 公開（公告）日 2020-07-03
申請公布號 CN106872872B 申請公布日 2020-07-03
分類號 G01R31/28 分類 -
發(fā)明人 何超;孫昕;石志剛 申請（專利權(quán)）人 北京確安科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京路浩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 苗青盛
地址 100094 北京市海淀區(qū)永豐基地豐賢中路7號孵化樓A樓2層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種將T2000測試系統(tǒng)的PATTERN轉(zhuǎn)換成J750測試系統(tǒng)PATTERN的方法，該方法采用了特殊的文件處理技術(shù)，使得轉(zhuǎn)換時間大大縮減，避免了平臺移植過程中花費(fèi)大量的時間去修改PATTERN的格式。