一種針對智能卡芯片的測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910028436.4 申請日 -
公開（公告）號 CN111435145A 公開（公告）日 2020-07-21
申請公布號 CN111435145A 申請公布日 2020-07-21
分類號 G01R31/28(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 石志剛;來金鑫 申請（專利權(quán)）人 北京確安科技股份有限公司
代理機構(gòu) 北京路浩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 王瑩;李相雨
地址 100094北京市海淀區(qū)永豐基地豐賢中路7號孵化樓A樓二層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明實施例提供一種針對智能卡芯片的測試系統(tǒng)，包括測試機及參與并行測試的多個智能卡芯片；其中：測試機包括一個或多個100MDM板卡，100MDM板卡包括多個100MDM測試資源；并且，每個智能卡芯片的VCC管腳單獨連接100MDM板卡進行供電；多個智能卡芯片的同種類的第一管腳采用多位復用的方式連接100MDM測試資源，第一管腳的信號不隨周期進行電平翻轉(zhuǎn)；每個智能卡芯片的第二管腳單獨連接100MDM測試資源，第二管腳的信號隨周期進行電平翻轉(zhuǎn)。本發(fā)明實施例提供的針對智能卡芯片的測試系統(tǒng)，通過采用100MDM板卡給VCC管腳供電，并且同種類的第一管腳復用100MDM測試資源，有效地減少了測試機板卡的使用數(shù)量，降低了測試成本。??