一種半導體可靠性評估方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810985436.9 申請日 -
公開（公告）號 CN109145460A 公開（公告）日 2019-01-04
申請公布號 CN109145460A 申請公布日 2019-01-04
分類號 G06F17/50 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 不公告發(fā)明人 申請（專利權(quán)）人 洪啟集成電路（珠海）有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 200120 上海市浦東新區(qū)南匯新城鎮(zhèn)環(huán)湖西二路888號C樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種半導體快速可靠性評估方法及裝置，包括高效且可靠的可靠性基準（BL）管理系統(tǒng)和基于序貫概率比測試（SPRT）的測試方案。為確保SPRT測試方案的可信設置，應用貝葉斯方法不斷更新BL數(shù)據(jù)庫。這是SPRT第一次應用于具有兩個未知參數(shù)的可靠性風險評估。應用本發(fā)明提供的方法及裝置，可以快速測得半導體的可靠性，減少樣本量和測試時間。