一種集成電路測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201621110705.X 申請日 -
公開（公告）號 CN206235711U 公開（公告）日 2017-06-09
申請公布號 CN206235711U 申請公布日 2017-06-09
分類號 G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 楊良春 申請（專利權(quán)）人 北京信諾達(dá)泰思特科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 100013 北京市東城區(qū)和平里東街11號122號樓一層?xùn)|側(cè)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型涉及一種集成電路測試裝置，包括基板，基板的上表面上開設(shè)有橫向容置槽，橫向容置槽的右側(cè)面上設(shè)有按鈕開關(guān)，基板的上表面上還開設(shè)有豎向輸出槽，基板的后側(cè)面上設(shè)有推出氣缸，推出氣缸的活塞桿穿過基板的側(cè)壁并可伸入至橫向容置槽內(nèi)，基板的后側(cè)設(shè)有支撐板，支撐板的前側(cè)面上設(shè)有安裝板，安裝板的上側(cè)面上設(shè)有壓緊氣缸，壓緊氣缸的輸出軸穿過安裝板并與連接板固定連接，連接板的上表面上固定設(shè)置有測試機(jī)，連接板的下表面上設(shè)有與集成電路芯片引腳相適配的多個(gè)連接端子，連接端子與測試機(jī)連接，集成電路測試裝置還包括主機(jī)、鍵盤和顯示器，本實(shí)用新型的集成電路測試裝置測試速度快、效率高。