數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)（ST3020-D）

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201930170749.4 申請日 -
公開（公告）號 CN305390219S 公開（公告）日 2019-10-18
申請公布號 CN305390219S 申請公布日 2019-10-18
分類號 10-05（12） 分類 -
發(fā)明人 鄧亞芬; 濮德龍 申請（專利權(quán)）人 北京信諾達泰思特科技股份有限公司
代理機構(gòu) 北京智沃律師事務(wù)所 代理人 北京信諾達泰思特科技股份有限公司
地址 100142 北京市海淀區(qū)西三環(huán)中路10號望海樓B座二層205室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 1．本外觀設(shè)計產(chǎn)品的名稱：數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)（ST3020?D）。2．本外觀設(shè)計產(chǎn)品的用途：本外觀設(shè)計產(chǎn)品用于測試數(shù)字集成電路，可靠性高。3．本外觀設(shè)計產(chǎn)品的設(shè)計要點：在于產(chǎn)品整體形狀。4．最能表明本外觀設(shè)計設(shè)計要點的圖片或照片：立體圖。