一種智能型集成電路測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201621109808.4 申請日 -
公開（公告）號 CN206235710U 公開（公告）日 2017-06-09
申請公布號 CN206235710U 申請公布日 2017-06-09
分類號 G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 楊良春 申請（專利權(quán)）人 北京信諾達泰思特科技股份有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 100013 北京市東城區(qū)和平里東街11號122號樓一層?xùn)|側(cè)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及一種智能型集成電路測試裝置，包括底板和蓋板，蓋板的一側(cè)鉸接在底板上，底板的上表面上開設(shè)有第一容置槽，第一容置槽的底面上設(shè)有凸臺，凸臺的外側(cè)面上開設(shè)有第二容置槽，第二容置槽內(nèi)設(shè)有第一彈性裝置，第一彈性裝置的一端與限位柱連接，限位柱的端面為傾斜面，凸臺的上方設(shè)有罩體，罩體的側(cè)壁上開設(shè)有與限位柱相適配的通孔，第一容置槽內(nèi)還設(shè)有至少兩塊支撐板，第一容置槽的底面與支撐板之間設(shè)有第二彈性裝置，支撐板的頂面上設(shè)有滑槽，滑槽內(nèi)設(shè)有滑塊，滑塊與基板連接，基板的一側(cè)設(shè)有多個第一金屬電極，支撐板內(nèi)設(shè)有多個第二金屬電極。本實用新型的智能型集成電路測試裝置能夠測試多種型號集成電路芯片、通用性強。