一種用于重金屬檢測的金膜修飾電極及其制備方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110897219.6 申請日 -
公開（公告）號 CN113702477A 公開（公告）日 2021-11-26
申請公布號 CN113702477A 申請公布日 2021-11-26
分類號 G01N27/48（2006.01）I;G01N27/30（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 奚亞男;胡保帥;崔皓博 申請（專利權(quán)）人 廣州鈺芯智能科技研究院有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州幫專高智知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 喻振興
地址 510000廣東省廣州市南沙區(qū)進(jìn)港大道8號1104房
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種用于重金屬檢測的金膜修飾電極及其制備方法，具體采用電化學(xué)沉積的方法，在電極基底表面原位修飾金膜，并將工作電極、參比電極與輔助電極共面化，實(shí)現(xiàn)了電極間距為1～100μm的微型化設(shè)計(jì)，大大降低了溶液電阻，提高了檢測的響應(yīng)性，并將其應(yīng)用于重金屬檢測，具體為銅、鉛、鋅、砷、碲、汞6種重金屬離子，實(shí)現(xiàn)了快速簡便檢測重金屬的目的，為高可靠性的微型傳感器的設(shè)計(jì)與應(yīng)用提供了新思路。