一種檢查芯片供電網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)缺陷的方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110670176.8 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN113283201A | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-08-20 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN113283201A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-08-20 |
| 分類(lèi)號(hào) | G06F30/33;G06F30/392;G06F30/394;G06F115/02 | 分類(lèi) | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 商振;蔣文超;鄧蓮蕓 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 | 世芯電子（上海）有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 無(wú)錫市匯誠(chéng)永信專(zhuān)利代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 曹慧萍 |
| 地址 | 200030 上海市徐匯區(qū)龍華中路596號(hào)A樓11樓 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種檢查芯片供電網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)缺陷的方法，其可降低電源網(wǎng)絡(luò)分析過(guò)程復(fù)雜度，可節(jié)約分析時(shí)間和服務(wù)器資源，同時(shí)可提高電源網(wǎng)絡(luò)分析效率，將該方法應(yīng)用于芯片設(shè)計(jì)后端的物理版圖驗(yàn)證前期，方法包括：基于項(xiàng)目數(shù)據(jù)，總結(jié)獲取芯片中每種功能模塊對(duì)應(yīng)的功耗分布陣列，將功耗分布陣列中的功耗求和，獲取相應(yīng)功能模塊的統(tǒng)計(jì)總功耗，計(jì)算裕量，在芯片設(shè)計(jì)前端，仿真獲取當(dāng)前項(xiàng)目寄存器傳輸級(jí)仿真功耗，計(jì)算比例系數(shù)，為當(dāng)前項(xiàng)目門(mén)極仿真功耗增加裕量，計(jì)算當(dāng)前項(xiàng)目門(mén)極仿真功耗陣列，對(duì)當(dāng)前項(xiàng)目門(mén)極仿真功耗陣列進(jìn)行分析，獲取分析結(jié)果，根據(jù)分析結(jié)果，對(duì)芯片中薄弱區(qū)域重新進(jìn)行設(shè)計(jì)。 |
