一種芯片封裝方法及封裝結(jié)構(gòu)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201910978107.6 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN110676244A | 公開(公告)日 | 2020-01-10 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN110676244A | 申請(qǐng)公布日 | 2020-01-10 |
分類號(hào) | H01L23/552(2006.01); H01L23/485(2006.01); H01L21/60(2006.01) | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 李林萍; 盛荊浩; 江舟 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 湖州錦晟股權(quán)投資合伙企業(yè)(有限合伙) |
代理機(jī)構(gòu) | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 杭州見聞錄科技有限公司 |
地址 | 313000 浙江省湖州市湖州經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)康山街道紅豐路1366號(hào)3幢1219-11 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N芯片封裝方法及芯片封裝結(jié)構(gòu),通過在晶圓的焊墊上設(shè)置鈍化層,然后在鈍化層上形成第一金屬鍵合層,在基板上形成第二金屬鍵合層,通過第一金屬鍵合層和第二金屬鍵合層的鍵合,將基板和晶圓鍵合封裝在一起,基板上設(shè)置有第一屏蔽層,所述第一屏蔽層與第二金屬鍵合層相接設(shè)置;在晶圓和基板鍵合后,對(duì)晶圓進(jìn)行半切割,切割到暴露第一金屬鍵合層,再形成第二屏蔽層,第二屏蔽層與第一金屬鍵合層電性連接,從而得到由第一屏蔽層、第二金屬鍵合層、第二屏蔽層和第一金屬鍵合層共同組成的電磁屏蔽結(jié)構(gòu),該屏蔽結(jié)構(gòu)近似封閉,進(jìn)而提高了電磁屏蔽效果。 |
