一種檢測液晶玻璃表面缺陷的雙光路成像模組
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201922018099.9 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN211122588U | 公開（公告）日 | 2020-07-28 |
| 申請公布號 | CN211122588U | 申請公布日 | 2020-07-28 |
| 分類號 | G01N21/95(2006.01)I | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 戴銳;張強(qiáng)勇;劉錦云 | 申請（專利權(quán)）人 | 南京穎圖電子技術(shù)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 南京樂羽知行專利代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 南京穎圖電子技術(shù)有限公司 |
| 地址 | 211106江蘇省南京市江寧區(qū)利源南路55號C8-102室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實用新型公開了一種檢測液晶玻璃表面缺陷的雙光路成像模組，包括設(shè)置在產(chǎn)品上方的第一照射模塊和第二照射模塊，所述第一照射模塊的反射光路上設(shè)有反射模塊，所述反射模塊的反射光路上設(shè)有檢測模塊。利用反射模塊反射，使得光路能在較小的空間內(nèi)實現(xiàn)復(fù)雜的光學(xué)系統(tǒng)，光學(xué)模組整體結(jié)構(gòu)緊湊、方便調(diào)節(jié)、便于安裝；利用一個線掃相機(jī)，完成亮場、暗場同時成像，降低硬件成本，并且不需要復(fù)雜的控制對位程序，將亮場、暗場圖像在空間位置上精準(zhǔn)對位，降低控制技術(shù)調(diào)節(jié)復(fù)雜度。?? |
