一種保護(hù)屏蔽柵溝槽型場效應(yīng)晶體管的屏蔽多晶硅側(cè)壁的形成方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201910765715.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112397390A | 公開(公告)日 | 2021-02-23 |
申請公布號 | CN112397390A | 申請公布日 | 2021-02-23 |
分類號 | H01L21/336 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 蘇毅;常虹 | 申請(專利權(quán))人 | 南京紫竹微電子有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 上海容慧專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 于曉菁 |
地址 | 210043 江蘇省南京市江北新區(qū)星火路17號創(chuàng)智大廈B座10C-A137室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 申請?zhí)峁┮环N保護(hù)屏蔽柵溝槽型場效應(yīng)晶體管的屏蔽多晶硅側(cè)壁的形成方法,在形成多個(gè)屏蔽多晶硅的過程中,通過二次氧化層形成工藝來制成屏蔽多晶硅側(cè)壁,以提高屏蔽多晶硅頂部區(qū)域氧化物厚度及溝槽側(cè)壁在屏蔽多晶硅及柵極多晶硅過渡區(qū)域處的氧化物厚度以解決漏電流嚴(yán)重的問題。 |
