涂層導體金屬基帶表面缺陷的動態(tài)監(jiān)測裝置及檢測方法
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202010861680.1 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN111982919A | 公開（公告）日 | 2020-11-24 |
| 申請公布號 | CN111982919A | 申請公布日 | 2020-11-24 |
| 分類號 | G01N21/88(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 汪洋;豆文芝;蔡傳兵;菅洪彬;王濤 | 申請（專利權）人 | 上海上創(chuàng)超導科技有限公司 |
| 代理機構 | 上海浦東良風專利代理有限責任公司 | 代理人 | 上海上創(chuàng)超導科技有限公司 |
| 地址 | 201400上海市奉賢區(qū)望園路2066弄4號樓 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種金屬基帶表面缺陷動態(tài)監(jiān)測裝置及檢測方法，主要解決現有裝置和方法只能通過單個的點測試來描述長帶且僅采用灰度檢測不能對產品進行等級分類的技術問題。本發(fā)明動態(tài)監(jiān)測裝置，包括生產線繞帶裝置，在金屬基帶上方設有上表面檢測橋架及照明裝置，在金屬基帶下方設有下表面檢測橋架及照明裝置，生產線繞帶裝置、上表面檢測橋架及照明裝置、下表面檢測橋架及照明裝置分別將生產信號和圖像及控制信號通過線纜傳送給計算機系統，計算機系統在線分析產品表面圖像的各種特征，實現對表面缺陷的定位、檢測、測量，然后將數據通過網絡傳送給報警監(jiān)控計算機，輸出各種即時和延遲信號。?? |
