三維可編程存儲器的制備方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811117240.4 申請日 -
公開(公告)號 CN109545787B 公開(公告)日 2021-04-09
申請公布號 CN109545787B 申請公布日 2021-04-09
分類號 H01L27/115(2017.01)I 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 彭澤忠 申請(專利權(quán))人 成都皮兆永存科技有限公司
代理機構(gòu) 成都惠迪專利事務(wù)所(普通合伙) 代理人 劉勛
地址 610000四川省成都市高新區(qū)府城大道西段399號5棟1單元11層3號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 三維可編程存儲器的制備方法,涉及存儲器的制備技術(shù)。本發(fā)明包括下述步驟:1)形成基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)體;2)對基層結(jié)構(gòu)體開槽;3)在條形槽的內(nèi)壁逐層設(shè)置預(yù)設(shè)的存儲器結(jié)構(gòu)所需的各存儲介質(zhì)層;4)在條形槽的空腔中填充核心介質(zhì),形成核心介質(zhì)層;5)在條形槽的端部區(qū)域設(shè)置自頂層到底層貫穿的隔離槽,從形狀上由隔離槽將各條形槽首尾連接為一條曲線,隔離槽侵入條形槽以使條形槽長邊方向兩側(cè)的導(dǎo)電介質(zhì)形成絕緣隔離;并在條形槽上開設(shè)自頂層到底層貫穿的切割槽孔,切割槽孔侵入其所在條形槽長邊鄰近的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)體,切割槽孔將條形槽分割為至少3個獨立的存儲體;6)在隔離槽和切割槽孔中填充絕緣介質(zhì)。本發(fā)明得到的半導(dǎo)體存儲器存儲密度高。??