物體表面缺陷檢測方法、裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910556466.2 申請日 -
公開（公告）號 CN110349133B 公開（公告）日 2021-11-23
申請公布號 CN110349133B 申請公布日 2021-11-23
分類號 G06T7/00（2017.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 周才健;周柔剛;盛錦華 申請（專利權(quán)）人 廣東廣源智能科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 杭州華知專利事務(wù)所（普通合伙） 代理人 張德寶
地址 311100浙江省杭州市余杭區(qū)文一西路1500號1號樓111室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種物體表面缺陷檢測方法、裝置。所示方法包括：獲取基準(zhǔn)圖像和待檢測圖像的多個網(wǎng)格灰度均值；其中，所述基準(zhǔn)圖像為無缺陷圖像；計(jì)算多個所述基準(zhǔn)圖像的網(wǎng)格灰度均值與對應(yīng)位置的所述待檢測圖像的網(wǎng)格灰度均值之比，得到多個網(wǎng)格信息變化率；根據(jù)所述多個網(wǎng)格信息變化率進(jìn)行曲面擬合，得到所述待檢測圖像相對于所述基準(zhǔn)圖像的灰度變化倍率曲面；根據(jù)所述灰度變化倍率曲面對所述待檢測圖像進(jìn)行亮度重構(gòu)，得到重構(gòu)圖像；對所述重構(gòu)圖像基于所述基準(zhǔn)圖像進(jìn)行差分處理，分離出所述待檢測圖像中的缺陷。本申請通過灰度變化倍率曲面對所述待檢測圖像進(jìn)行亮度重構(gòu)，提高了物體表面圖像缺陷分離的準(zhǔn)確率。