一種線條鐳射標(biāo)簽的鑒偽方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111551071.7 申請日 -
公開（公告）號 CN114219056A 公開（公告）日 2022-03-22
申請公布號 CN114219056A 申請公布日 2022-03-22
分類號 G06K19/06（2006.01）I;G06V10/44（2022.01）I;G06V10/56（2022.01）I;G06V10/46（2022.01）I;G06V10/50（2022.01）I;G06Q30/00（2012.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 袁涌耀 申請（專利權(quán)）人 杭州沃樸物聯(lián)科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 310000浙江省杭州市余杭區(qū)五常街道五常大道181號華立云立方1幢203室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種線條鐳射標(biāo)簽的鑒偽方法，步驟為：S1：驗偽設(shè)備采集第一位置標(biāo)簽圖片，獲取第一位置標(biāo)簽圖片中的鐳射線條的點(diǎn)位特征，并提取該點(diǎn)位的鐳射線條的顏色特征向量；S2：移動驗偽設(shè)備至第二位置，采集第二位置標(biāo)簽圖片，獲取第二位置標(biāo)簽圖片中的鐳射線條的點(diǎn)位特征，并提取該點(diǎn)位的鐳射線條的顏色特征向量；S3：對比第一位置標(biāo)簽圖片與第二位置標(biāo)簽圖片中相同點(diǎn)位的顏色變化數(shù)量，進(jìn)行驗偽，判定該標(biāo)簽的真?zhèn)?。采用鐳射線條進(jìn)行防偽，實現(xiàn)了在相同單位面積內(nèi)布設(shè)更多的鐳射線條，增加仿制難度；同時通過鐳射顆粒避免圖像被復(fù)制，同時本申請的鑒偽方法僅僅需要對標(biāo)簽顏色的變化進(jìn)行判斷，增強(qiáng)傳統(tǒng)鐳射標(biāo)簽仿制難度及識別準(zhǔn)確率。