一種對(duì)帶隙基準(zhǔn)電壓進(jìn)行溫度系數(shù)修調(diào)結(jié)構(gòu)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202121663614.X 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN214954728U 公開(kāi)（公告）日 2021-11-30
申請(qǐng)公布號(hào) CN214954728U 申請(qǐng)公布日 2021-11-30
分類(lèi)號(hào) G05F1/567（2006.01）I 分類(lèi) 控制；調(diào)節(jié);
發(fā)明人 王國(guó)瑞;張福泉;汪金銘;王圣禮 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 上海旻森電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京眾允專利代理有限公司 代理人 沈小青
地址 200120上海市浦東新區(qū)秋月路26號(hào)矽岸國(guó)際1號(hào)樓3樓D室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開(kāi)了一種對(duì)帶隙基準(zhǔn)電壓進(jìn)行溫度系數(shù)修調(diào)結(jié)構(gòu)，包括基座，所述基座的頂部開(kāi)設(shè)有放置槽，所述放置槽的一端背側(cè)以及前側(cè)分別固定設(shè)有第一導(dǎo)電端頭以及第二導(dǎo)電端頭，所述基座的前側(cè)固定設(shè)有負(fù)極輸出端頭，且所述第二導(dǎo)電端頭與負(fù)極輸出端頭通過(guò)導(dǎo)線電性連接。本實(shí)用新型通過(guò)導(dǎo)電塊以及導(dǎo)電探針在導(dǎo)電框中前移，此時(shí)電阻增大，對(duì)芯片的輸入電流減小，從而降低芯片的功率，導(dǎo)電塊以及導(dǎo)電探針在導(dǎo)電框中后移，此時(shí)電阻減小，對(duì)芯片的輸入電流增大，從而提高芯片的功率，該結(jié)構(gòu)有效節(jié)省測(cè)試芯片的固定成本，降低每顆芯片所分擔(dān)的測(cè)試時(shí)間成本，提高測(cè)試效率。