叉指狀p-GaN柵結(jié)構(gòu)HEMT型紫外探測器及其制備方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202010373617.3 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN111524973A | 公開(公告)日 | 2020-08-11 |
申請公布號 | CN111524973A | 申請公布日 | 2020-08-11 |
分類號 | H01L29/778(2006.01)I | 分類 | - |
發(fā)明人 | 仲大佑;雷建明;郭慧;胡利群;張廷志;張開驍 | 申請(專利權(quán))人 | 南京冠鼎光電科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 江蘇斐多律師事務(wù)所 | 代理人 | 張佳妮 |
地址 | 210046江蘇省南京市棲霞區(qū)南京經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)恒泰路匯智科技園B2棟1006室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種叉指狀p?GaN柵結(jié)構(gòu)HEMT型紫外探測器,其中所述p?GaN層在AlGaN層上呈往復(fù)式折線型分布,在AlGaN層臺面設(shè)有多根平行的橫向p?GaN線,且通過縱向p?GaN線將所有平行的p?GaN線首尾相連,形成一根完整的p?GaN線,p?GaN線將AlGaN層臺面分割成兩個部分;還包括設(shè)置在AlGaN層上的歐姆接觸電極,所述歐姆接觸電極為叉指結(jié)構(gòu),線形的叉指部分生長在橫向p?GaN線之間,與橫向p?GaN線平行。本發(fā)明叉指型的電極和特殊的p?GaN設(shè)計減小了電極間距,增加有效受光面積,提高樣品利用率,提高了器件的光增益。?? |
