一種線損點(diǎn)檢系統(tǒng)及方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201710800744.5 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN109470939B 公開（公告）日 2021-01-29
申請(qǐng)公布號(hào) CN109470939B 申請(qǐng)公布日 2021-01-29
分類號(hào) G01R31/00 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 羅良萌 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 西安克瑞斯半導(dǎo)體技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京品源專利代理有限公司 代理人 孟金喆
地址 518055 廣東省深圳市南山區(qū)西麗街道留仙大道中興工業(yè)園
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種線損點(diǎn)檢方法，包括以下步驟：通過(guò)線損設(shè)置策略調(diào)整頻段對(duì)應(yīng)的配置線損值，進(jìn)行金機(jī)制作；利用所述金機(jī)對(duì)環(huán)境線損進(jìn)行點(diǎn)檢；增加頻段的功率修正參數(shù)，消除調(diào)整頻段對(duì)應(yīng)的配置線損值帶來(lái)的影響，獲得點(diǎn)檢環(huán)境下的真實(shí)功率。本發(fā)明還提供一種線損點(diǎn)檢系統(tǒng)，克服了現(xiàn)有技術(shù)中存在的不同儀表間差異和測(cè)量精度問(wèn)題，有效規(guī)避了金機(jī)點(diǎn)檢小線損為負(fù)值問(wèn)題，提高了工廠生產(chǎn)效率，節(jié)省了工廠及客戶生產(chǎn)成本。