相位調(diào)制改變PECVD放電腔內(nèi)電磁場分布的方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201811170053.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN111020533B | 公開(公告)日 | 2022-02-18 |
申請公布號 | CN111020533B | 申請公布日 | 2022-02-18 |
分類號 | C23C16/505(2006.01)I | 分類 | 對金屬材料的鍍覆;用金屬材料對材料的鍍覆;表面化學(xué)處理;金屬材料的擴散處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆;金屬材料腐蝕或積垢的一般抑制〔2〕; |
發(fā)明人 | 劉傳生;陳金元 | 申請(專利權(quán))人 | 理想萬里暉半導(dǎo)體設(shè)備(上海)股份有限公司 |
代理機構(gòu) | - | 代理人 | - |
地址 | 201620上海市松江區(qū)思賢路3255號3幢403室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 在具有射頻電源的PECVD放電腔內(nèi),通過相位調(diào)制器將電極板上的不同電源饋入點間設(shè)置不同的相位,并在等離子體響應(yīng)時間內(nèi),改變相位差以及此相位差的持續(xù)時間從而改善等離子體所響應(yīng)的電磁場的均勻性。 |
