存儲(chǔ)器失效位置查找方法、裝置和計(jì)算機(jī)設(shè)備

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110782283.X 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113724772A 公開（公告）日 2021-11-30
申請(qǐng)公布號(hào) CN113724772A 申請(qǐng)公布日 2021-11-30
分類號(hào) G11C29/12;G11C29/08 分類 信息存儲(chǔ);
發(fā)明人 崔風(fēng)洲 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳市美信咨詢有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 張萌
地址 518108 廣東省深圳市寶安區(qū)石巖街道松白公路北側(cè)方正科技工業(yè)園研發(fā)樓109室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種存儲(chǔ)器失效位置查找方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，該存儲(chǔ)器失效位置查找方法包括：利用預(yù)設(shè)電性能測(cè)試算法對(duì)目標(biāo)存儲(chǔ)器進(jìn)行測(cè)試，獲取目標(biāo)存儲(chǔ)器中失效存儲(chǔ)單元的邏輯地址信息；根據(jù)邏輯地址信息劃分出目標(biāo)存儲(chǔ)器的目標(biāo)測(cè)試范圍；對(duì)目標(biāo)測(cè)試范圍上的存儲(chǔ)單元進(jìn)行第一預(yù)設(shè)次數(shù)的反復(fù)上電，并通過缺陷定位設(shè)備獲取失效存儲(chǔ)單元的物理位置信息。本發(fā)明通過失效存儲(chǔ)單元的邏輯地址劃分出目標(biāo)測(cè)試范圍，可以限定失效存儲(chǔ)單元進(jìn)行下一步的上電測(cè)試，將失效存儲(chǔ)單元隔離出來，使定位失效存儲(chǔ)單元的物理位置的成功率更高，通過缺陷定位設(shè)備觀測(cè)目標(biāo)測(cè)試范圍上失效存儲(chǔ)單元產(chǎn)生的故障點(diǎn)，可以有效定位失效物理位置。