結(jié)構(gòu)色顏料光學(xué)薄膜厚度的監(jiān)測方法以及鍍膜機(jī)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201911216216.0 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112981357A | 公開(公告)日 | 2021-06-18 |
申請公布號 | CN112981357A | 申請公布日 | 2021-06-18 |
分類號 | C23C14/54 | 分類 | 對金屬材料的鍍覆;用金屬材料對材料的鍍覆;表面化學(xué)處理;金屬材料的擴(kuò)散處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆;金屬材料腐蝕或積垢的一般抑制〔2〕; |
發(fā)明人 | 馬道遠(yuǎn) | 申請(專利權(quán))人 | 寧波融光納米科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 深圳市威世博知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 李慶波 |
地址 | 315000 浙江省寧波市奉化區(qū)經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)濱海新區(qū)天海路399號(小微產(chǎn)業(yè)園7號廠房)(自主申報) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請公開了一種結(jié)構(gòu)色顏料光學(xué)薄膜厚度的監(jiān)測方法以及鍍膜機(jī),該方法包括:利用石英晶體監(jiān)控系統(tǒng)對結(jié)構(gòu)色顏料光學(xué)薄膜中各膜層的物理厚度進(jìn)行全程監(jiān)控;設(shè)定生產(chǎn)過程中需要簡易光學(xué)監(jiān)控系統(tǒng)監(jiān)控的預(yù)設(shè)膜層;在開始制備預(yù)設(shè)膜層時,若簡易光學(xué)監(jiān)控系統(tǒng)監(jiān)測到預(yù)設(shè)膜層的光學(xué)厚度達(dá)到時,則停止預(yù)設(shè)膜層的制備,并獲取石英晶體監(jiān)控系統(tǒng)監(jiān)測到的預(yù)設(shè)膜層的物理厚度d,進(jìn)而按照更新折射率n;獲取材料與預(yù)設(shè)膜層的材料相同的其他各膜層的光學(xué)厚度并按照更新其他各膜層的物理厚度d′,進(jìn)而在鍍膜機(jī)制備材料與預(yù)設(shè)膜層材料相同的膜層時,石英晶體監(jiān)控系統(tǒng)以更新后的物理厚度d′進(jìn)行監(jiān)控。本申請的方法能夠精確地控制膜層的厚度。 |
