一種光學測量組件、角度控制裝置、測量光澤度的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811526542.7 申請日 -
公開（公告）號 CN110487752B 公開（公告）日 2020-12-04
申請公布號 CN110487752B 申請公布日 2020-12-04
分類號 G01N21/57 分類 測量；測試;
發(fā)明人 馬道遠 申請（專利權(quán)）人 寧波融光納米科技有限公司
代理機構(gòu) 深圳市威世博知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 鐘子敏
地址 315000 浙江省寧波市奉化區(qū)經(jīng)濟開發(fā)區(qū)濱海新區(qū)濱海大道388號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種光學測量組件、角度控制裝置及測量光澤度的方法，所述光學測量組件包括：光收發(fā)器件安裝面；光發(fā)射器件和光感測器件，分別安裝于所述光收發(fā)器件安裝面；被測物貼合面，用于與被測物進行貼合；其中，所述光收發(fā)器件安裝面與所述被測物貼合面之間具有預(yù)定夾角，所述被測物貼合面設(shè)有探測窗，所述光發(fā)射器件發(fā)出的光線能夠通過所述探測窗投射到所述被測物表面，自所述被測物表面反射的光線能夠通過所述探測窗反射到所述光感測器件。通過上述方式，本申請能夠降低實現(xiàn)多個角度測量的成本。