一種結(jié)構(gòu)色顏料光學(xué)薄膜自動設(shè)計的方法
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201811207609.0 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN109343215B | 公開（公告）日 | 2021-03-05 |
| 申請公布號 | CN109343215B | 申請公布日 | 2021-03-05 |
| 分類號 | G02B27/00(2006.01)I | 分類 | 光學(xué); |
| 發(fā)明人 | 馬道遠 | 申請（專利權(quán)）人 | 寧波融光納米科技有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 深圳市威世博知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 李慶波 |
| 地址 | 315000浙江省寧波市奉化區(qū)經(jīng)濟開發(fā)區(qū)濱海新區(qū)濱海大道388號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申請公開了一種結(jié)構(gòu)色顏料光學(xué)薄膜自動設(shè)計的方法，該方法包括：(1)根據(jù)結(jié)構(gòu)色顏料對角度的依賴要求(是否變色)、色調(diào)要求、亮度要求確定光學(xué)薄膜在兩個角度方向上(正入射和斜入射)的目標(biāo)函數(shù)，設(shè)計過程中程序自動同時滿足這兩個條件；(2)結(jié)構(gòu)色顏料是一種對稱結(jié)構(gòu)光學(xué)薄膜，設(shè)計過程中,程序自動滿足這個條件。設(shè)計過程是：按照優(yōu)化算法自動調(diào)整光學(xué)薄膜各層的折射率、厚度等值，并使膜系對稱，然后通過矩陣法計算反射率，并與目標(biāo)函數(shù)比較，判斷調(diào)整后的光學(xué)薄膜結(jié)構(gòu)參數(shù)值是否同時滿足以上條件。若滿足，則達到設(shè)計目的，若不滿足則返回，重新調(diào)整。通過上述方式，本申請能夠不依賴經(jīng)驗、高效率地設(shè)計顏料光學(xué)薄膜。?? |
