一種零件內(nèi)框高度檢測(cè)設(shè)備

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201921451393.2 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN210464301U 公開(公告)日 2020-05-05
申請(qǐng)公布號(hào) CN210464301U 申請(qǐng)公布日 2020-05-05
分類號(hào) G01B5/06;G01B5/00 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 王清濤;陳慶東 申請(qǐng)(專利權(quán))人 華睿智連(重慶)電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 孔祥貴
地址 404100 重慶市渝北區(qū)玉峰山鎮(zhèn)桐桂大道3號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開一種零件內(nèi)框高度檢測(cè)設(shè)備,包括檢測(cè)表,還包括多個(gè)量塊,多個(gè)量塊沿豎直方向依次堆疊,位于最下方的量塊的底面、檢測(cè)表和待測(cè)零件放置于同一水平面,位于最上方的量塊的頂面與待測(cè)零件內(nèi)框的待測(cè)平面處于同一高度,檢測(cè)表用于檢測(cè)位于最上方的量塊的頂面高度。設(shè)備結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,且即使內(nèi)框結(jié)構(gòu)復(fù)雜,只要保證堆疊的量塊高度與待測(cè)平面高度相同,即可準(zhǔn)確獲取高度,能夠完整顯示內(nèi)部結(jié)構(gòu),提高適用性,外部要求小,同時(shí)有效減小誤差,提高檢測(cè)精度和工作效率。