一種零件內(nèi)框高度檢測設(shè)備
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201921451393.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN210464301U | 公開(公告)日 | 2020-05-05 |
申請公布號(hào) | CN210464301U | 申請公布日 | 2020-05-05 |
分類號(hào) | G01B5/06;G01B5/00 | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 王清濤;陳慶東 | 申請(專利權(quán))人 | 華睿智連(重慶)電子科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 孔祥貴 |
地址 | 404100 重慶市渝北區(qū)玉峰山鎮(zhèn)桐桂大道3號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實(shí)用新型公開一種零件內(nèi)框高度檢測設(shè)備,包括檢測表,還包括多個(gè)量塊,多個(gè)量塊沿豎直方向依次堆疊,位于最下方的量塊的底面、檢測表和待測零件放置于同一水平面,位于最上方的量塊的頂面與待測零件內(nèi)框的待測平面處于同一高度,檢測表用于檢測位于最上方的量塊的頂面高度。設(shè)備結(jié)構(gòu)簡單,且即使內(nèi)框結(jié)構(gòu)復(fù)雜,只要保證堆疊的量塊高度與待測平面高度相同,即可準(zhǔn)確獲取高度,能夠完整顯示內(nèi)部結(jié)構(gòu),提高適用性,外部要求小,同時(shí)有效減小誤差,提高檢測精度和工作效率。 |
